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山田光學(xué)鹵素?zé)艄庠囱b置

山田光學(xué)鹵素?zé)艄庠囱b置

更新時(shí)間:2024-04-03  訪問(wèn)次數(shù):4146

簡(jiǎn)要描述:

YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置

宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。
YP-150I對(duì)應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片
YP-150I照度范圍φ30
YP-250I可對(duì)應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片
YP-250I照度范圍φ60
YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白

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YAMADA山田光學(xué)YP-150I   YP-250I鹵素?zé)艄庠?/span>


宏観観察用的照明設(shè)備,可検測(cè)各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

產(chǎn) 品 簡(jiǎn) 介
YP-150I對(duì)應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片
YP-150I照度范圍φ30
YP-250I可對(duì)應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片
YP-250I照度范圍φ60
YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源
可檢測(cè)各種缺陷 如硅片 砷化鎵   碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物/劃痕 /拋光不均 /
霧狀/ 劃傷等 ,照度在400000Lx以上

產(chǎn) 品 特 點(diǎn)
1. 大于   400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
2.   使用鹵素?zé)糇鳛楣庠?,色溫高達(dá)3400K,照光和顏色均一了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。
3. 由于冷鏡的使用,使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2   到 1/3
4. 光束直徑由鏡片調(diào)整30-50mm 之間調(diào)整
5. 底部開(kāi)光,調(diào)整照明勘察器高度,操作簡(jiǎn)便,可控制光量

產(chǎn) 品 用 途
YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源,微小瑕疵也可被檢測(cè)出來(lái)

規(guī) 格 書(shū)

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